根据《浙江省半导体行业协会团体标准管理办法》及相关文件要求，经评审专家审核通过，现批准发布《新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法》团体标准，标准号为T/ZJBDT 001-2025。该项标准于2025年1月10日发布，自2025年1月10日起实施。

现予以公告。

附件一：《新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法》团体标准（第一部分）

附件二：《新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法》团体标准（第二部分）

附件三：《新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法》团体标准（第三部分）

附件四：《新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法》团体标准（第四部分）

浙江省半导体行业协会

2025年1月10日

关于批准发布《新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法》团体标准的公告.pdf

附件1：新型非易失性存储芯片基本性能测试方法第1部分.pdf

附件2：新型非易失性存储芯片基本性能测试方法第2部分.pdf

附件3：新型非易失性存储芯片基本性能测试方法第3部分.pdf

附件4：新型非易失性存储芯片基本性能测试方法第4部分.pdf